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Raman光谱研究厚度对La0.9Sr0.1MnO3/Si薄膜结构的影响

刘雪芹 韩国俭 黄春奎 兰伟

Raman光谱研究厚度对La0.9Sr0.1MnO3/Si薄膜结构的影响

刘雪芹, 韩国俭, 黄春奎, 兰伟
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出版历程
  • 收稿日期:  2009-01-08
  • 修回日期:  2009-03-27
  • 刊出日期:  2009-11-20

Raman光谱研究厚度对La0.9Sr0.1MnO3/Si薄膜结构的影响

  • 1. 兰州大学物理科学与技术学院,兰州 730000
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号: 50872047)资助的课题.

摘要: 通过溶胶-凝胶旋涂方法结合后退火工艺在Si(100)上制备了不同厚度的La0.9Sr0.1MnO3(LSMO)薄膜,利用X射线衍射(XRD)和共焦显微拉曼散射(Raman)研究了LSMO/Si(100)薄膜的微结构.研究结果表明90 nm厚的LSMO薄膜具有正交相结构,当厚度大于150 nm时,薄膜具有菱方相结构. 150 nm厚的薄膜的Raman图谱中,490 cm-1和602 cm-1正交结构

English Abstract

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