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测定半导体扩散层表面浓度、p-n结深度及扩散系数的霍耳效应法

谢党

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测定半导体扩散层表面浓度、p-n结深度及扩散系数的霍耳效应法

谢党

МЕТОД ЗФФЕКТА ХОЛЛА ОПРЕДЕЛЕНИИЮ ПОВЕРХНОСТНОЙ КОНЦЕНТРАЦИИ НА ДИФФУЗИОННОМ СЛОЕПЛУПРОВОД-НИКА,ГЛУБИНЫ ЭЛЕКТРОННО-ДЫРОЧНОГО ПЕРЕ-

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出版历程
  • 收稿日期:  1965-01-25
  • 刊出日期:  1966-04-05

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