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用阶跃恢复法测定砷化镓结型(p-n和M-S结)两极管的载流子寿命

王渭源

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用阶跃恢复法测定砷化镓结型(p-n和M-S结)两极管的载流子寿命

王渭源

MEASUREMENT OF CARRIER LIFETIME OF GaAs DIODES WITH p-n AND M-S JUNCTIONS BY STEP RECOVERY METHOD

WANG WEI-YUAN
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出版历程
  • 收稿日期:  1978-04-24
  • 刊出日期:  1979-03-20

用阶跃恢复法测定砷化镓结型(p-n和M-S结)两极管的载流子寿命

  • 1. 中国科学院上海冶金研究所

摘要: 本文报告了我们用阶跃恢复法测定砷化镓两极管载流子寿命的初步结果。首先,对硅阶跃两极管用反向恢复法和阶跃恢复法两种方法测寿命,经比较结果,数据相当符合。在此基础上提出了阶跃恢复法的测试条件,并认为这一方法测得的p-n结两极管寿命即少数载流子寿命。然后,用阶跃恢复法测定了砷化镓p-n结两极管的少数载流子寿命。我们也测定了砷化镓M-S结两极管的寿命,经过分析,认为它不是少数载流子寿命。

English Abstract

参考文献 (1)

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