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用可调探深的电子能量损失谱研究Sn/Si界面

高山虎 张云 荀坤 赵汝光 杨威生

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用可调探深的电子能量损失谱研究Sn/Si界面

高山虎, 张云, 荀坤, 赵汝光, 杨威生

TUNABLE-SAMPLING-DEPTH ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY STUDIES OF Sn/Si INTERFACE

GAO SHAN-HU, ZHANG YUN, XUN KUN, ZHAO RU-GUANG, YANG WEI-SHENG
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出版历程
  • 收稿日期:  1992-10-13
  • 刊出日期:  1993-04-05

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