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单频导纳谱法测量锗硅量子阱的能带偏移

陆埮 蒋家禹 龚大为 孙恒慧

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单频导纳谱法测量锗硅量子阱的能带偏移

陆埮, 蒋家禹, 龚大为, 孙恒慧

MEASUREMENT OF THE BAND OFFSET IN GexSi1-x/Si SINGLE QUANTUM WELL BY USING SINGLE FREQUENCY ADMITTANCE SPECTROSCOPY

LU FANG, JIANG JIA-YU, GONG DA-WEI, SUN HENG-HUI
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出版历程
  • 收稿日期:  1993-04-13
  • 刊出日期:  1994-01-05

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