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测定纳米晶粒尺寸分布的新方法及其应用

古堂生 石舜森 林光明

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测定纳米晶粒尺寸分布的新方法及其应用

古堂生, 石舜森, 林光明

A NEW METHOD TO DETERMINE THE SIZE DISTRIBUTION OF NANOCRYSTALLINE GRAINS AND ITS APPLICATION

GU TANG-SHENG, SHI SHUN-SEN, LIN GUANG-MING
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  • 介绍了一种测定纳米晶粒尺寸分布的新方法——X射线衍射谱峰形拟合法,阐述了其理论模型和基本假设,应用它对化学法制备的纳米SnO2的晶粒分布进行了分析,得出较理想的结果,并对此法进行了技术评估.
    A new method,Profile-fitting of X-ray diffraction spectroscopy (PFXDS) method,which was adopted to determine the size distribution of nanocrystalline grains,was introduced in this paper.Its theoretical model and basic hypothesis were clearly interpreted and its advantages and disadvantages were discussed in details.The PFXDS method was applied to the size distribution calculation of nano-SnO2 powder produced by sol-gel technology and the relatively ideal results were obtained.
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出版历程
  • 收稿日期:  1998-05-25
  • 修回日期:  1998-08-27
  • 刊出日期:  1999-01-05

测定纳米晶粒尺寸分布的新方法及其应用

  • 1. 中山大学物理系,广州 510275

摘要: 介绍了一种测定纳米晶粒尺寸分布的新方法——X射线衍射谱峰形拟合法,阐述了其理论模型和基本假设,应用它对化学法制备的纳米SnO2的晶粒分布进行了分析,得出较理想的结果,并对此法进行了技术评估.

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