搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

薄栅氧化层经时击穿的参数表征研究

刘红侠 郝 跃

引用本文:
Citation:

薄栅氧化层经时击穿的参数表征研究

刘红侠, 郝 跃

STUDY ON PARAMETER CHARACTERIZATION OF THIN GATE OXIDE TDDB BREAKDOWN

LIU HONG-XIA, HAO YUE
PDF
导出引用
计量
  • 文章访问数:  7413
  • PDF下载量:  948
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1999-10-25
  • 修回日期:  1999-11-20
  • 刊出日期:  2000-03-05

/

返回文章
返回