搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

动态应力下超薄栅氧化层经时击穿的可靠性评价

栾苏珍 刘红侠 贾仁需

引用本文:
Citation:

动态应力下超薄栅氧化层经时击穿的可靠性评价

栾苏珍, 刘红侠, 贾仁需

The dynamic reliability of ultra-thin gate oxide and its breakdown characteristics

Luan Su-Zhen, Liu Hong-Xia, Jia Ren-Xu
PDF
导出引用
计量
  • 文章访问数:  8364
  • PDF下载量:  1123
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2007-09-05
  • 修回日期:  2007-11-30
  • 刊出日期:  2008-02-05

/

返回文章
返回