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薄栅氧化层中陷阱电荷密度的测量方法

刘红侠 郑雪峰 郝跃

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薄栅氧化层中陷阱电荷密度的测量方法

刘红侠, 郑雪峰, 郝跃

Liu Hong-Xia, Zheng Xue-Feng, Hao Yao
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出版历程
  • 收稿日期:  2001-06-19
  • 修回日期:  2001-07-26
  • 刊出日期:  2005-04-11

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