| [1] |
彭颖吒, 张锴, 郑百林. 恒流充电有限柱体电极浓度分布及扩散诱导应力解析分析. 物理学报,
2024, 73(15): 158201.
doi: 10.7498/aps.73.20231753
|
| [2] |
贾丰鸣, 梅教旭, 王瑞峰, 程刚, 刘锟, 高晓明. 用于磁旋转光谱的环形永磁阵列的匀场分布仿真优化. 物理学报,
2022, 71(8): 080701.
doi: 10.7498/aps.71.20212031
|
| [3] |
林舒, 夏宁, 王洪广, 李永东, 刘纯亮. 同轴传输线微放电的统计理论稳态建模及敏感区域计算. 物理学报,
2018, 67(22): 227901.
doi: 10.7498/aps.67.20181341
|
| [4] |
宋庆功, 秦国顺, 杨宝宝, 蒋清杰, 胡雪兰. 杂质浓度对Zr替位掺杂-TiAl合金的结构延性和电子性质的影响. 物理学报,
2016, 65(4): 046102.
doi: 10.7498/aps.65.046102
|
| [5] |
刘进, 司福祺, 周海金, 赵敏杰, 窦科, 王煜, 刘文清. 机载成像差分吸收光谱技术测量区域NO2二维分布研究. 物理学报,
2015, 64(3): 034217.
doi: 10.7498/aps.64.034217
|
| [6] |
张瑜洁, 张万荣, 金冬月, 陈亮, 付强, 郭振杰, 邢光辉, 路志义. Ge组分分布对基区杂质非均匀分布的SiGe HBT温度特性的影响. 物理学报,
2013, 62(3): 034401.
doi: 10.7498/aps.62.034401
|
| [7] |
吴迎春, 吴学成, Sawitree Saengkaew, 姜淏予, 洪巧巧, Gérard Gréhan, 岑可法. 全场彩虹技术测量喷雾浓度及粒径分布. 物理学报,
2013, 62(9): 090703.
doi: 10.7498/aps.62.090703
|
| [8] |
李清都, 周红伟, 杨晓松. 基于异构计算的简单行走模型的吸引区域研究. 物理学报,
2012, 61(4): 040503.
doi: 10.7498/aps.61.040503
|
| [9] |
冯永平, 崔俊芝, 邓明香. 周期孔洞区域中热力耦合问题的双尺度有限元计算. 物理学报,
2009, 58(13): 327-S337.
doi: 10.7498/aps.58.327
|
| [10] |
周歧刚, 翟继卫, 姚 熹. 杂质分布设计对钛酸锶钡薄膜结构和性能的影响. 物理学报,
2007, 56(11): 6666-6673.
doi: 10.7498/aps.56.6666
|
| [11] |
高国良, 钱昌吉, 李 洪, 谷温静, 黄晓虹, 叶高翔. 无格点基底表面的杂质分布对分枝状凝聚体的影响. 物理学报,
2006, 55(7): 3349-3354.
doi: 10.7498/aps.55.3349
|
| [12] |
高国良, 钱昌吉, 李 洪, 黄晓虹, 谷温静, 叶高翔. 含杂质无格点基底表面分枝状凝聚体的计算机模拟. 物理学报,
2005, 54(6): 2600-2605.
doi: 10.7498/aps.54.2600
|
| [13] |
常加峰, 曾祥华, 周朋霞, 毕桥. 透镜型量子点中类氢杂质基态能的计算. 物理学报,
2004, 53(4): 978-983.
doi: 10.7498/aps.53.978
|
| [14] |
谢竞祎, 周宏余, 王 平, 丁晓纪, 刘志国, 宋 海, 陆 挺, 朱光华. 低能重离子注入花生干种子深度-浓度分布的方向效应研究. 物理学报,
2003, 52(10): 2530-2533.
doi: 10.7498/aps.52.2530
|
| [15] |
钱昌吉, 高国良, 李洪, 叶高翔. 无序杂质区域对沉积在胶体基底表面的金原子凝聚体分形结构的影响. 物理学报,
2002, 51(9): 1960-1964.
doi: 10.7498/aps.51.1960
|
| [16] |
王克逸；汪景昌. 与浓度相关的扩散系数计算--逼近法. 物理学报,
1989, 38(8): 1329-1333.
doi: 10.7498/aps.38.1329
|
| [17] |
江启杜, 刘福绥. 较高杂质浓度磁性合金负磁阻的关联对模型. 物理学报,
1986, 35(2): 177-187.
doi: 10.7498/aps.35.177
|
| [18] |
何贤昶. 硅单晶氢致缺陷分布的实验研究. 物理学报,
1984, 33(5): 694-695.
doi: 10.7498/aps.33.694
|
| [19] |
曾庆城. 硅中电离杂质扩散分布的显微观测. 物理学报,
1981, 30(2): 249-253.
doi: 10.7498/aps.30.249
|
| [20] |
林绪伦, 黄敞, 徐炳华. 用四探针及阳极氧化方法测量硅中扩散层杂质分布. 物理学报,
1964, 20(7): 643-653.
doi: 10.7498/aps.20.643
|
下载:
