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双势垒结构Cu-Al2O3-MgF2-Au隧道结中的电子共振隧穿与发光特性研究

王茂祥 孙承休 史晓春 俞建华

双势垒结构Cu-Al2O3-MgF2-Au隧道结中的电子共振隧穿与发光特性研究

王茂祥, 孙承休, 史晓春, 俞建华
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出版历程
  • 收稿日期:  1998-05-27
  • 修回日期:  1998-07-06
  • 刊出日期:  1999-01-05

双势垒结构Cu-Al2O3-MgF2-Au隧道结中的电子共振隧穿与发光特性研究

  • 1. 东南大学电子工程系,南京 210096
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:69576006)资助的课题.

摘要: 制备了Cu-Al2O3-MgF2-Au双势垒隧道发光结,分析了结加上一定偏压后的电子隧穿过程.指出由于构成隧道结的绝缘栅薄膜的厚度及禁带宽度的不同而导致双势垒中能级产生分裂,使电子通过栅区时产生共振隧穿现象.根据这一现象,并结合结的I-V特性,对结的发光性能进行了讨论.这种结构的结与普通单势垒MIM结相比,其发光效率(10-6—10-5)提高了近一个数量级,且发光光谱的波长范围及谱峰均向短波长方向

English Abstract

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