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利用肖特基势垒特性研究4mm波段硅雪崩二极管的杂质分布

林鸿溢

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利用肖特基势垒特性研究4mm波段硅雪崩二极管的杂质分布

林鸿溢

AN INVESTIGATION OF THE IMPURITY PROFILE OF THE 4mm BAND SILICON AVALANCHE DIODE BY MEANS OF THE SCHOTTKY BARRIER CHARACTERISTICS

LIN HONG-YI
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出版历程
  • 收稿日期:  1977-04-26
  • 刊出日期:  2005-08-01

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