搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

用X射线荧光光谱法非破坏测定多元合金薄膜的组分和厚度

程建邦 程万荣 王喜红 郝贡章 吴长存

引用本文:
Citation:

用X射线荧光光谱法非破坏测定多元合金薄膜的组分和厚度

程建邦, 程万荣, 王喜红, 郝贡章, 吴长存

NON-DESTRUCTIVE DETERMINATION OF COMPOSITION AND THICKNESS OF MULTI-COMPONENT ALLOY THIN FILMS BY X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPIC METHOD

CHENG JIAN-BANG, CHENG WAN-RONG, WANG XI-HONG, HAO GONG-ZHANG, WU ZHANG-CUN
PDF
导出引用
计量
  • 文章访问数:  7284
  • PDF下载量:  593
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1982-05-14
  • 刊出日期:  1983-01-05

/

返回文章
返回