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计及溅射损失的平行板静电场法离子引出和收集

谢国锋 王德武 应纯同

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计及溅射损失的平行板静电场法离子引出和收集

谢国锋, 王德武, 应纯同

Ion extraction and collection studied by parallel electrode method on considerin g sputtering loss

Xie Guo-Feng, Wang De-Wu, Ying Chun-Tong
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出版历程
  • 收稿日期:  2004-07-13
  • 修回日期:  2004-12-22
  • 刊出日期:  2005-02-05

计及溅射损失的平行板静电场法离子引出和收集

  • 1. 清华大学工程物理系,北京 100084
    基金项目: 国家重点基础研究发展规划(批准号:G2000077400)、国家自然科学基金(批准号:10435080,10175080, 10447006)和中国科学院知识创新工程重点方向项目(批准号:KJCX2-SW-N02)资助的课题.

摘要: 采用粒子模拟-Monte Carlo碰撞(particle in cell_Monte Carlo collision)方法研究了 原子蒸气激光同位素分离工程中一维平行板静电场法离子引出和收集过程,记录引出离子的 能量分布和角度分布,计算离子在收集板上造成的溅射损失.模拟结果表明,增加引出电压 可以缩短引出时间,降低碰撞损失,但是增加了溅射损失,使得收集率降低;增加电子温度 可以缩短引出时间,提高收集率;增加初始等离子体密度将使引出时间增加,收集率降低;而目标同位素丰度较高的情况下,离子引出过程的碰撞损失

English Abstract

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