搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

分子束外延法在Sapphire衬底上生长的Zn1-xMgxO薄膜折射率及厚度的测试

延凤平 郑 凯 王 琳 李一凡 龚桃荣 简水生 尾形健一 小池一步 佐佐诚彦 井上正崇 矢野满明

引用本文:
Citation:

分子束外延法在Sapphire衬底上生长的Zn1-xMgxO薄膜折射率及厚度的测试

延凤平, 郑 凯, 王 琳, 李一凡, 龚桃荣, 简水生, 尾形健一, 小池一步, 佐佐诚彦, 井上正崇, 矢野满明

Measurement of thickness and refractive index of Zn1-xMgxO film grown on sapphire substrate by molecular beam epitaxy

Yan Feng-Ping, Zheng Kai, Wang Lin, Li Yi-Fan, Gong Tao-Rong, Jian Shui-Sheng, K. Ogata, K. Koike, S. Sasa, M. Inoue, M. Yano
PDF
导出引用
计量
  • 文章访问数:  7141
  • PDF下载量:  869
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2006-09-27
  • 修回日期:  2006-11-21
  • 刊出日期:  2007-07-20

/

返回文章
返回