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pn结电容-电压法测量应变SiGe禁带宽度

舒斌 戴显英 张鹤鸣

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pn结电容-电压法测量应变SiGe禁带宽度

舒斌, 戴显英, 张鹤鸣

Determination of bandgap in SiGe strained layers using a pn heterojunction C-V

Shu Bin, Dai Xian-Ying, Zhang He-Ming
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出版历程
  • 收稿日期:  2003-03-04
  • 修回日期:  2003-04-09
  • 刊出日期:  2004-01-15

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