[1] |
刘杰, 刘艳侠. Ti2AlNb合金的嵌入原子势. 物理学报,
2022, 71(20): 203401.
doi: 10.7498/aps.71.20220846
|
[2] |
曹振, 郝大鹏, 唐刚, 寻之朋, 夏辉. 团簇状缺陷对纤维束断裂过程的影响. 物理学报,
2021, 70(20): 204602.
doi: 10.7498/aps.70.20210310
|
[3] |
尹媛, 李玲, 尹万健. 太阳能电池材料缺陷的理论与计算研究. 物理学报,
2020, 69(17): 177101.
doi: 10.7498/aps.69.20200656
|
[4] |
张东, 娄文凯, 常凯. 半导体极性界面电子结构的理论研究. 物理学报,
2019, 68(16): 167101.
doi: 10.7498/aps.68.20191239
|
[5] |
刘昊华, 王少华, 李波波, 李桦林. 缺陷致非线性电路孤子非对称传输. 物理学报,
2017, 66(10): 100502.
doi: 10.7498/aps.66.100502
|
[6] |
张秀芝, 王凯悦, 李志宏, 朱玉梅, 田玉明, 柴跃生. 氮对金刚石缺陷发光的影响. 物理学报,
2015, 64(24): 247802.
doi: 10.7498/aps.64.247802
|
[7] |
张明兰, 杨瑞霞, 李卓昕, 曹兴忠, 王宝义, 王晓晖. GaN厚膜中的质子辐照诱生缺陷研究. 物理学报,
2013, 62(11): 117103.
doi: 10.7498/aps.62.117103
|
[8] |
王鑫华, 庞磊, 陈晓娟, 袁婷婷, 罗卫军, 郑英奎, 魏珂, 刘新宇. GaN HEMT栅边缘电容用于缺陷的研究. 物理学报,
2011, 60(9): 097101.
doi: 10.7498/aps.60.097101
|
[9] |
陈文豪, 杜磊, 殷雪松, 康莉, 王芳, 陈松. PbS红外探测器低频噪声物理模型及缺陷表征研究. 物理学报,
2011, 60(10): 107202.
doi: 10.7498/aps.60.107202
|
[10] |
肖振林, 史力斌. 利用第一性原理研究Ni掺杂ZnO铁磁性起源. 物理学报,
2011, 60(2): 027502.
doi: 10.7498/aps.60.027502
|
[11] |
梁志鹏, 董正超. 半导体/磁性d波超导隧道结中的散粒噪声. 物理学报,
2010, 59(2): 1288-1293.
doi: 10.7498/aps.59.1288
|
[12] |
陈祥磊, 张杰, 杜淮江, 周先意, 叶邦角. 化合物半导体材料的正电子寿命计算. 物理学报,
2010, 59(1): 603-608.
doi: 10.7498/aps.59.603
|
[13] |
赵文彬, 张冠军, 严 璋. 半导体闪络引起的材料表面破坏现象研究. 物理学报,
2008, 57(8): 5130-5137.
doi: 10.7498/aps.57.5130
|
[14] |
王海云, 翁惠民, Ling C. C.. GaN/SiC异质结的慢正电子研究. 物理学报,
2008, 57(9): 5906-5910.
doi: 10.7498/aps.57.5906
|
[15] |
夏志林, 邵建达, 范正修. 薄膜体内缺陷对损伤概率的影响. 物理学报,
2007, 56(1): 400-406.
doi: 10.7498/aps.56.400
|
[16] |
陈志权, 河裾厚男. He离子注入ZnO中缺陷形成的慢正电子束研究. 物理学报,
2006, 55(8): 4353-4357.
doi: 10.7498/aps.55.4353
|
[17] |
吴师岗, 邵建达, 范正修. 负离子元素杂质破坏模型. 物理学报,
2006, 55(4): 1987-1990.
doi: 10.7498/aps.55.1987
|
[18] |
孙贤开, 林碧霞, 朱俊杰, 张 杨, 傅竹西. LP-MOCVD异质外延ZnO薄膜中的应力及对缺陷的影响. 物理学报,
2005, 54(6): 2899-2903.
doi: 10.7498/aps.54.2899
|
[19] |
李鹏飞, 颜晓红, 王如志. 缺陷对准周期磁超晶格输运性质的影响. 物理学报,
2002, 51(9): 2139-2143.
doi: 10.7498/aps.51.2139
|
[20] |
汤学峰, 顾 牡, 童宏勇, 梁 玲, 姚明珍, 陈玲燕, 廖晶莹, 沈炳浮, 曲向东, 殷之文, 徐炜新, 王景成. 掺镧PbWO4闪烁晶体的缺陷研究. 物理学报,
2000, 49(10): 2007-2010.
doi: 10.7498/aps.49.2007
|