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半导体闪络引起的材料表面破坏现象研究

赵文彬 张冠军 严 璋

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半导体闪络引起的材料表面破坏现象研究

赵文彬, 张冠军, 严 璋

Investigation on surface damage phenomena induced by flashover across semiconductor

Zhao Wen-Bin, Zhang Guan-Jun, Yan Zhang
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出版历程
  • 收稿日期:  2007-09-11
  • 修回日期:  2008-03-06
  • 刊出日期:  2008-04-05

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