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单层硅Si6H4Ph2的稳定性和电子结构密度泛函研究

宋健 李锋 邓开明 肖传云 阚二军 陆瑞锋 吴海平

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单层硅Si6H4Ph2的稳定性和电子结构密度泛函研究

宋健, 李锋, 邓开明, 肖传云, 阚二军, 陆瑞锋, 吴海平

Density functional study on the stability and electronic structure of single layer Si6H4Ph2

Song Jian, Li Feng, Deng Kai-Ming, Xiao Chuan-Yun, Kan Er-Jun, Lu Rui-Feng, Wu Hai-Ping
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-04-06
  • 修回日期:  2012-07-15
  • 刊出日期:  2012-12-05

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