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新型槽栅PMOSFET热载流子退化机理与抗热载流子效应研究

任红霞 郝 跃

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新型槽栅PMOSFET热载流子退化机理与抗热载流子效应研究

任红霞, 郝 跃

STUDY ON THE HOT-CARRIER-DEGRADATION MECHANISM AND HOT-CARRIER-EFFECT IMMUNITY I N ADVANCED GROOVED-GATE PMOSFET

REN HONG-XIA, HAO YUE
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出版历程
  • 收稿日期:  2000-02-16
  • 修回日期:  2000-04-29
  • 刊出日期:  2000-09-20

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