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含有δ掺杂层的SiGe pMOS量子阱沟道空穴面密度研究

胡辉勇 张鹤鸣 戴显英 吕 懿 舒 斌 王 伟 姜 涛 王喜媛

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含有δ掺杂层的SiGe pMOS量子阱沟道空穴面密度研究

胡辉勇, 张鹤鸣, 戴显英, 吕 懿, 舒 斌, 王 伟, 姜 涛, 王喜媛

Measurement and analysis of the pulsed magnetic field phase lag in the ceramic case*

Hu Hui-Yong, Zhang HeMing, Dai Xian-Ying, Lü Yi, Shu Bin, Wang Wei, Jiang Tao, Wang Xi-Yuan
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出版历程
  • 收稿日期:  2004-02-23
  • 修回日期:  2004-04-07
  • 刊出日期:  2004-06-05

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