搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

含有δ掺杂层的SiGe pMOS量子阱沟道空穴面密度研究

胡辉勇 张鹤鸣 戴显英 吕 懿 舒 斌 王 伟 姜 涛 王喜媛

引用本文:
Citation:

含有δ掺杂层的SiGe pMOS量子阱沟道空穴面密度研究

胡辉勇, 张鹤鸣, 戴显英, 吕 懿, 舒 斌, 王 伟, 姜 涛, 王喜媛

Measurement and analysis of the pulsed magnetic field phase lag in the ceramic case*

Hu Hui-Yong, Zhang HeMing, Dai Xian-Ying, Lü Yi, Shu Bin, Wang Wei, Jiang Tao, Wang Xi-Yuan
PDF
导出引用
计量
  • 文章访问数:  5921
  • PDF下载量:  611
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2004-02-23
  • 修回日期:  2004-04-07
  • 刊出日期:  2004-06-05

/

返回文章
返回