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GaN晶体中堆垛层错的高分辨电子显微像研究

万 威 唐春艳 王玉梅 李方华

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GaN晶体中堆垛层错的高分辨电子显微像研究

万 威, 唐春艳, 王玉梅, 李方华

A study on the stacking fault in GaN crystals by high-resolution electron microscope imaging

Wan Wei, Tang Chun-Yan, Wang Yu-Mei, Li Fang-Hua
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出版历程
  • 收稿日期:  2004-10-10
  • 修回日期:  2005-01-25
  • 刊出日期:  2005-09-20

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