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具有HfN/HfO2栅结构的p型MOSFET中的负偏置-温度不稳定性研究

萨 宁 康晋锋 杨 红 刘晓彦 张 兴 韩汝琦

引用本文:
Citation:

具有HfN/HfO2栅结构的p型MOSFET中的负偏置-温度不稳定性研究

萨 宁, 康晋锋, 杨 红, 刘晓彦, 张 兴, 韩汝琦

Negative bias temperature instability of HfN/HfO2 gated p-MOSFETs

Sa Ning, Kang Jin-Feng, Yang Hong, Liu Xiao-Yan, Zhang Xing, Han Ru-Qi
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出版历程
  • 收稿日期:  2005-07-14
  • 修回日期:  2005-08-13
  • 刊出日期:  2006-03-20

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