[1] |
陈翠红, 李占奎, 王秀华, 李荣华, 方芳, 王柱生, 李海霞. 高性能PIN-硅探测器的研制及其在高能放射性核束实验中的应用测试. 物理学报,
2023, 72(12): 122902.
doi: 10.7498/aps.72.20230213
|
[2] |
刘成, 李明, 文章, 顾钊源, 杨明超, 刘卫华, 韩传余, 张勇, 耿莉, 郝跃. 复合漏电模型建立及阶梯场板GaN肖特基势垒二极管设计. 物理学报,
2022, 71(5): 057301.
doi: 10.7498/aps.71.20211917
|
[3] |
邓小庆, 邓联文, 何伊妮, 廖聪维, 黄生祥, 罗衡. InGaZnO薄膜晶体管泄漏电流模型. 物理学报,
2019, 68(5): 057302.
doi: 10.7498/aps.68.20182088
|
[4] |
佘彦超, 张蔚曦, 王应, 罗开武, 江小蔚. 氧空位缺陷对PbTiO3铁电薄膜漏电流的调控. 物理学报,
2018, 67(18): 187701.
doi: 10.7498/aps.67.20181130
|
[5] |
吕懿, 张鹤鸣, 胡辉勇, 杨晋勇, 殷树娟, 周春宇. 单轴应变SiNMOSFET源漏电流特性模型. 物理学报,
2015, 64(19): 197301.
doi: 10.7498/aps.64.197301
|
[6] |
李维勤, 刘丁, 张海波. 高能电子照射绝缘样品的泄漏电流特性. 物理学报,
2014, 63(22): 227303.
doi: 10.7498/aps.63.227303
|
[7] |
张艳, 王增梅, 陈云飞, 郭新立, 孙伟, 袁国亮, 殷江, 刘治国. 0.5Ba(Ti0.8Zr0.2)O3-0.5(Ba0.7Ca0.3)TiO3压电薄膜的摩擦、磨损性能. 物理学报,
2013, 62(6): 066802.
doi: 10.7498/aps.62.066802
|
[8] |
任舰, 闫大为, 顾晓峰. AlGaN/GaN 高电子迁移率晶体管漏电流退化机理研究. 物理学报,
2013, 62(15): 157202.
doi: 10.7498/aps.62.157202
|
[9] |
周春宇, 张鹤鸣, 胡辉勇, 庄奕琪, 吕懿, 王斌, 李妤晨. 应变Si NMOSFET漏电流解析模型. 物理学报,
2013, 62(23): 237103.
doi: 10.7498/aps.62.237103
|
[10] |
文娟辉, 杨琼, 曹觉先, 周益春. 铁电薄膜漏电流的应变调控. 物理学报,
2013, 62(6): 067701.
doi: 10.7498/aps.62.067701
|
[11] |
陈国云, 辛勇, 黄福成, 魏志勇, 雷升杰, 黄三玻, 朱立, 赵经武, 马加一. 用于反应堆中子/ 射线混合场测量的涂硼电离室性能. 物理学报,
2012, 61(8): 082901.
doi: 10.7498/aps.61.082901
|
[12] |
毛朝梁, 董显林, 王根水, 姚春华, 曹菲, 曹盛, 杨丽慧, 王永令. 晶粒尺寸对Ba0.70Sr0.30TiO3陶瓷介电性能的影响规律及机理研究. 物理学报,
2009, 58(8): 5784-5789.
doi: 10.7498/aps.58.5784
|
[13] |
王秀章, 刘红日. La0.3Sr0.7TiO3模板层对Pb(Zr0.5Ti0.5)O3薄膜的铁电性能增强效应的研究. 物理学报,
2007, 56(3): 1735-1740.
doi: 10.7498/aps.56.1735
|
[14] |
唐秋文, 沈明荣, 方 亮. 两种不同(Ba,Sr)TiO3薄膜介电-温度特性的研究. 物理学报,
2006, 55(3): 1346-1350.
doi: 10.7498/aps.55.1346
|
[15] |
卢 肖, 吴传贵, 张万里, 李言荣. 射频溅射制备的BST薄膜介电击穿研究. 物理学报,
2006, 55(5): 2513-2517.
doi: 10.7498/aps.55.2513
|
[16] |
贾建峰, 黄 凯, 潘清涛, 贺德衍. 溶胶-凝胶法制备(Ba0.7Sr0.3)TiO3/LaNiO3异质薄膜及其结构和介电性质研究. 物理学报,
2005, 54(9): 4406-4410.
doi: 10.7498/aps.54.4406
|
[17] |
周小莉, 杜丕一. 磁控溅射法制备的CaCu3Ti4O12薄膜. 物理学报,
2005, 54(4): 1809-1813.
doi: 10.7498/aps.54.1809
|
[18] |
董正高, 沈明荣, 徐闰, 甘肇强, 葛水兵. 氧气氛低温退火Pt/Ba0.8Sr0.2TiO3Pt引起的低频介电弛豫效应. 物理学报,
2002, 51(12): 2896-2900.
doi: 10.7498/aps.51.2896
|
[19] |
刘红侠, 郝跃. 应力导致的薄栅氧化层漏电流瞬态特性研究. 物理学报,
2001, 50(9): 1769-1773.
doi: 10.7498/aps.50.1769
|
[20] |
程建功, 孟祥建, 唐 军, 郭少令, 褚君浩. 溶胶-凝胶法制备的Ba0.8Sr0.2TiO3薄膜的结构及铁电性质研究. 物理学报,
2000, 49(5): 1006-1009.
doi: 10.7498/aps.49.1006
|