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用面垒探测器测定n型硅中少数载流子的扩散长度

唐璞山 贺明霞 陈佐禹 王楚

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用面垒探测器测定n型硅中少数载流子的扩散长度

唐璞山, 贺明霞, 陈佐禹, 王楚

THE DIFFUSION LENGTH OF MINORITY CARRIERS IN N-TYPE SILICON MEASURED WITH A SURFACE BARRIER DETECTOR

TANG PU-SHAN, HUO MING-HSIA, CHEN TSO-YU, WANG CHU
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出版历程
  • 收稿日期:  1962-08-06
  • 刊出日期:  2005-08-05

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