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Raman光谱研究厚度对La0.9Sr0.1MnO3/Si薄膜结构的影响

刘雪芹 韩国俭 黄春奎 兰伟

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Raman光谱研究厚度对La0.9Sr0.1MnO3/Si薄膜结构的影响

刘雪芹, 韩国俭, 黄春奎, 兰伟

Thickness dependence of microstructure for La0.9Sr0.1MnO3/Si films determined by micro-Raman spectroscopy

Liu Xue-Qin, Han Guo-Jian, Huang Chun-Kui, Lan Wei
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出版历程
  • 收稿日期:  2009-01-08
  • 修回日期:  2009-03-27
  • 刊出日期:  2009-11-20

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