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三维H形栅SOINMOS器件总剂量条件下的单粒子效应

卓青青 刘红侠 王志

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三维H形栅SOINMOS器件总剂量条件下的单粒子效应

卓青青, 刘红侠, 王志

Single event effect of 3D H-gate SOI NMOS devices in total dose ionizing

Zhuo Qing-Qing, Liu Hong-Xia, Wang Zhi
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出版历程
  • 收稿日期:  2013-03-24
  • 修回日期:  2013-05-28
  • 刊出日期:  2013-09-05

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