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部分耗尽绝缘层附着硅静态随机存储器总剂量辐射损伤效应的研究

李明 余学峰 薛耀国 卢健 崔江维 高博

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部分耗尽绝缘层附着硅静态随机存储器总剂量辐射损伤效应的研究

李明, 余学峰, 薛耀国, 卢健, 崔江维, 高博

Research on the total dose irradiation effect of partial-depletion-silicon-on insulator static random access memory

Li Ming, Yu Xue-Feng, Xue Yao-Guo, Lu Jian, Cui Jiang-Wei, Gao Bo
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出版历程
  • 收稿日期:  2011-07-04
  • 修回日期:  2012-05-28
  • 刊出日期:  2012-05-05

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