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全耗尽绝缘体上硅氧化铪基铁电场效应晶体管存储单元单粒子效应计算机模拟研究

沈睿祥 张鸿 宋宏甲 侯鹏飞 李波 廖敏 郭红霞 王金斌 钟向丽

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全耗尽绝缘体上硅氧化铪基铁电场效应晶体管存储单元单粒子效应计算机模拟研究

沈睿祥, 张鸿, 宋宏甲, 侯鹏飞, 李波, 廖敏, 郭红霞, 王金斌, 钟向丽

Numerical simulation of single-event effects in fully-depleted silicon-on-insulator HfO2-based ferroelectric field-effect transistor memory cell

Shen Rui-Xiang, Zhang Hong, Song Hong-Jia, Hou Peng-Fei, Li Bo, Liao Min, Guo Hong-Xia, Wang Jin-Bin, Zhong Xiang-Li
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出版历程
  • 收稿日期:  2021-09-06
  • 修回日期:  2021-11-20
  • 上网日期:  2022-01-26
  • 刊出日期:  2022-03-20

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