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衬底温度对MOCVD法沉积ZnO透明导电薄膜的影响

陈新亮 薛俊明 张德坤 孙 建 任慧志 赵 颖 耿新华

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衬底温度对MOCVD法沉积ZnO透明导电薄膜的影响

陈新亮, 薛俊明, 张德坤, 孙 建, 任慧志, 赵 颖, 耿新华

Effect of substrate temperature on the ZnO thin films as TCO in solar cells grown by MOCVD technique

Chen Xin-Liang, Xue Jun-Ming, Zhang De-Kun, Sun Jian, Ren Hui-Zhi, Zhao Ying, Geng Xin-Hua
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出版历程
  • 收稿日期:  2005-12-09
  • 修回日期:  2006-08-21
  • 刊出日期:  2007-07-11

衬底温度对MOCVD法沉积ZnO透明导电薄膜的影响

  • 1. 南开大学光电子薄膜器件与技术研究所和天津市重点实验室;南开大学光电信息技术科学教育部重点实验室,天津 300071
    基金项目: 天津市自然科学基金(批准号:043604911)和天津市科技攻关项目(批准号:043186511)资助的课题.

摘要: 研究了衬底温度对MOCVD技术制备的ZnO薄膜的微观结构和光电特性影响. XRD和SEM的研究结果表明,衬底温度对ZnO薄膜的微观结构有显著影响,明显的形貌转变温度大约发生在175℃,低于175℃,薄膜呈镜面结构,晶粒为球状,高于177℃的较高温度范围,薄膜从“类金字塔”状的绒面结构演化为“岩石”状显微组织;随着温度增加,薄膜的晶粒尺寸明显增大.绒面结构的未掺杂ZnO薄膜具有17.96 cm2/V·s的高迁移率和3.28×10-2 Ω·cm的低电阻率,对ZnO薄膜的进一步掺杂和结构优化有望应用于Si薄膜太阳电池的前电极.

English Abstract

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