搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

薄栅氧化层经时击穿的实验分析及物理模型研究

刘红侠 方建平 郝跃

引用本文:
Citation:

薄栅氧化层经时击穿的实验分析及物理模型研究

刘红侠, 方建平, 郝跃

EXPERIMENTAL ANALYSIS AND PHYSICAL MODEL INVESTIGATION OF TDDB OF THIN GATE OXIDE

LIU HONG-XIA, FANG JIAN-PING, HAO YUE
PDF
导出引用
计量
  • 文章访问数:  7033
  • PDF下载量:  1463
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2000-11-24
  • 刊出日期:  2001-03-05

/

返回文章
返回